天星ED400涡流测厚仪

天星ED400涡流测厚仪

天星ED400涡流测厚仪的产品特点：
·ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型，仪器性能大幅度提高。
·仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
·仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查，可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
·仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。
·ED400型涡流测厚仪与ED300型相比，具有如下特点：
·量程宽:ED400型的量程达到0～500μm。
·精度高:ED400型的测量精度达到2%。
·分辨率高:ED400型的分辨率达到0.1μm。
·校正简便:只校正“0”和“50μm”两点，即可在全量程范围内保证设计精度。
·基体导电率影响小:基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量 误差不大于1～2μm。
·可靠性提高:采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性 提高。
·稳定性提高:采用先进的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器 校正一次可在生产现场长期使用。
·探头线寿命长:采用德国进口的，在德国测厚仪上使用的探头线，探头线寿命可大大延长。
·探头芯寿命长:采用高强度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。
·探头可互换:外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无需返厂维修。
天星ED400涡流测厚仪的技术参数：
·测量范围:0～500μm。
·测量精度:0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%。
·分辨率:0～50μm：0.1μm；
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可选）。
·使用温度:5～45℃。
·外形尺寸:150mm×80mm×30mm。
·重量:260g。
天星ED400涡流测厚仪的标准配置:
·主机            1台。
·探头            1支。
·基体            1块（6063合金）。
·校正箔片        1片（约50μm，附检测报告）。
·使用说明书      1份。
·合格证          1份。
·保修单          1份。
·手提式仪器箱    1个。
天星ED400涡流测厚仪的可选附件:
·备用探头。
·基体。
·校正箔片（约50μm，附检测报告）。