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    UM-2D超声波测厚仪操作使用说明

    2013-09-24 11:07:09  来源:宁波科诚仪器
    UM-2D超声波测厚仪使用说明
    一、UM-2D超声波测厚仪的概况:
    UM-2D超声波测厚仪,具有标准和涂层两种工作模式。涂层模式采用回波-回波法,当材料表面有涂层时,无需把涂层打磨掉,能直接测出基材净厚度,而且不需要对仪器进行校准,可直接测量,缺点是测量范围受到一定限制,当使用标准探头时,测量范围是3mm~18mm。标准模式采用脉冲-回波法,当材料表面覆有涂层时会带来测量误差,因此须把涂层打磨干净后再测量,标准模式的优点是测量范围宽,当使用标准探头时,测量范围是 0.8mm~300mm。
    1.1模式切换:
    按MENU键,当反黑显示标准或涂层时,按键可进行标准和涂层两种模式的切换。
    1.2基本配置及各部分名称:
    1.2.1显示:
    仪液晶屏显示:m/s-声速单位,BATT-低电压标志,mm-厚度单位,凸-耦合标志
    键盘功能说明:ON-开机键,VEL-声速键,MENU-菜单键,MEM-存储键,CAL-校准键,背光键,回车键,△、▽-上、下调节键,标准-随机试块
    1.2.2标准配置:
    主机1台,耦合剂1 瓶,探头1个,仪器密封箱1个,电池2节,使用说明书1本
    1.2.3选购件:
    高温探头,铸铁探头,小径管探头,微型探头,探头线,阶梯试块,通信软件及电缆
    二、UM-2D超声波测厚仪的技术参数:
    显示方式:128×64大屏幕点阵液晶屏显示
    标准模式测量范围:0.8mm~300 mm  详见附表3:探头与测量范围
    管材的测量下限(钢):Φ20mm×3.0mm(PT-08 探头), Φ15mm×2.0mm(PT-06 探头),示值误差不超过±0.1mm。
    涂层模式测量范围:3mm~18mm(使用标准探头)
    示值误差:±0.05mm (10mm以下);±0.5% H+0.01(10mm以上);H为被测物厚度
    重复性:±0.05mm
    显示分辨率:0.01mm,0.1mm;英寸0.001,0.01
    测量频率:4Hz
    声速调节范围:1000~9999 m/s
    使用环境:-10℃~40
    电源:二节5号碱性电池
    外形尺寸:149×73×32 mm
    重量:160g(不含电池)
    三、UM-2D超声波测厚仪的主要功能:
    具有标准和穿透涂层两种工作模式
    厚度值存储:可存储500个厚度值,关机后数据不丢失,并且划分为五个文件,便于对数据的管理
    厚度报警:可设置厚度界限,对限界外的测量值自动报警
    *小值捕获(也称扫查模式):捕获测量过程中的*小值
    两点校准:测量曲面壁厚或特殊应用时,可提高测量的精度
    支持毫米和英寸两种厚度单位
    可存储5种不同材料的声速
    校准值自动存储,关机后数据不丢失
    删除功能:对文件中的可疑数据进行删除,也可删除所有已存储数据以便存储新的数值
    具有背光显示,为夜间工作带来方便
    低电压提示
    自动关机:如果5分钟内没进行任何操作,仪器自动关机
    耦合状态提示:通过观察耦合标志的稳定性可知耦合是否正常
    支持中文、英文两种语言界面
    四、UM-2D超声波测厚仪的测量步骤:
    4.1仪器准备:
    将探头插头插入主机探头插座中,按一下ON键,听到两次蜂鸣声屏幕出现显示,其中显示的声速为上次关机前使用的声速
    4.2声速的设定:
    当已知材料声速,可以利用仪器提供的声速手动调节功能,并依据附表中的参考声速值,调整仪器的内置声速值。声速存储器可存储五个声速值。具体操作步骤如下:
    如果当前显示屏显示的是非声速值,那么按VEL键进入声速状态,屏幕将显示当前声速存储单元的内容。之后,每按一次VEL键,声速数值就变化一次,可循环显示五个声速值
    如果当前声速存储器内没有所需声速值,可用△或▽键调整到所需值即可,同时将此值存入声速存储器内以便下次使用。
    在调整声速数值时,屏幕上的▲可在数值的个位、十位或百位的下方,当▲在个位、十位、百位的下方时,每按一次△或▽键,数值将依次加或减1、10、100,可以通过回车键实现▲在个位、十位或百位下方的切换。
    4.3声速的测量:
    在被测材料的声速未知时,在测量厚度前必须进行声速校准。
    注:准备与被测物体成分相同的测试块,其表面必须适于测量,用游标卡尺测量测试块厚度。
    具体步骤如下:
    ①在现有的仪器状态下,测量已准备好的同质并已知厚度的试块。屏幕显示测量的厚度值。
    ②按VEL声速键,利用△或▽键调整声速值,直到测量值与已知厚度相等,这时的声速值就是该材料的声速。
    ③该声速自动被存入当前的声速存储单元。
    4.4仪器校准:
    4.4.1快捷校准:
    在每次更换探头后应进行校准。此步骤对保证测量准确度十分关键。如有必要,可在每次测量前先进行快捷校准。
    在随机试块上涂耦合剂,将探头与随机试块耦合,直至耦合标志出现且不闪烁,按下CAL键,即校准完毕。如果声速是5900m/s,屏幕上显示4.0mm。
    注:如果声速值不等于5900m/s,用随机试块校准时,屏幕显示值不等于4.0mm,这是正常情况。如果是涂层模式无需校准。
    4.4.2两点校准:
    测量曲面壁厚或特殊应用时,为了提高测量的精度,可进行两点校准,详见第7章第5节。
    4.4.3快捷校准与两点校准的区别:
    快捷校准与两点校准的区别有以下几点:
    ①快捷校准用随机试块,声速为5900m/s。两点校准可用任意材料和厚度的试块。
    ②快捷校准只需一块试块。两点校准需要两块厚度不同的试块
    4.5测量厚度:
    仪器校准后,设置好声速值,然后将耦合剂涂于被测处,将探头与被测材料耦合即可测量,屏幕将显示被测材料的厚度值。
    说明:当探头与被测材料耦合时,屏幕上将显示“凸”标志;当耦合标志闪烁或不出现则说明没耦合好。拿开探头后,厚度值保持不变,耦合标志消失。
    五、UM-2D超声波测厚仪的厚度值的存储与查阅:
    5.1存储厚度值:
    厚度值的存储分5个文件,每个文件可存储100个测量值。
    首先,选择存储文件号。按MENU键,使屏幕反显查阅,按回车键,5个文件号的可循环显示,当选择所需的文件号后,再按MENU键使屏幕显示存储字样,即存储文件号选择完毕。
    其次,测量厚度值。
    *后,存储厚度值。测量厚度值后,屏幕将显示该厚度值。此时,按下MEM键即可存储该厚度值。存储完成后屏幕左下方显示一次“Memory”,即证明已存储该厚度值。
    5.2查阅厚度值:
    按MENU键,使屏幕反显查阅,然后,按回车键,5个文件号可循环显示,选择需查阅的文件号,
    *后,按MEM键进入该文件。
    说明: No. : 表示当前显示的存储数据的序号;Total : 表示当前文件中存储数据的总数量。
    此时,可通过△或▽键进行翻阅查看,查阅完毕后,按MENU键或进行测量即可返回主界面。
    六、UM-2D超声波测厚仪的删除操作:
    6.1删除单个厚度值:
    在查阅存储数据状态,按下回车键即可删除当前显示的存储值。
    具体步骤如下:
    ①进入查阅存储数据状态。
    ②按回车键删除当前值,显示下一个存储值。
    6.2删除当前文件:
    要删除当前文件的所有内容,具体操作如下:
    ①按MENU键将光标移至“功能”处
    再按回车键进入功能菜单并通过▽键选定功能设置。
    ②按回车键进入该界面,再通过△或▽键选定“删除当前文件”。
    ③选定后,按回车键将删除当前文件,按MENU键返回上个界面。
    ④删除完成后,按VEL键或按MENU键均可返回主界面。
    6.3删除所有文件:
    要删除所有文件中的数据,步骤同上。只需选定删除所有文件即可。
    6.4删除校准数据:
    要删除校准数据,步骤同上。只需选定删除校准数据即可。
    七、UM-2D超声波测厚仪的系统和功能设置:
    7.1系统设置:
    按MENU键将光标移至“功能”处,然后按回车键进入功能菜单,此时,光标在(系统设置)项上,(如果不是在此项上可用△或▽键上下移动将光标移在系统设置项上),按回车键进入系统设置菜单,用△或▽键上下移动选择需修改项,然后按回车键可进行修改。
    系统设置中共有4个选项,依次为:单位(公制、英制);*小值捕获;两点校准;语言;4个选项,用户可以根据实际需要进行设置。设置完成后,按MENU键或进行测量可返回主页面。
    7.2功能设置:
    按MENU键将光标移至“功能”处, 然后,按回车键进入功能菜单,再通过△或▽键选择功能设置。
    再按回车键进入功能设置菜单,通过△或▽键上下移动光标选择相应的功能项。
    功能设置中共有4个选项,依次为:删除当前文件、删除所有文件、删除校准数据、调节亮度4个选项,用户可以根据实际需要进行设置。设置完后,按MENU键或进行测量可返回主页面。
    7.3测量单位及分辨率的设定:
    UM-2D提供两种测量单位:公制和英制。用户可以根据实际的需要进行设定。具体的设定步骤如下:
    进入系统设置菜单,通过△或▽键将光标移至“单位”处,按回车键可循环调节METRIC(公制)、IMPERIAL(英制)选项
    7.4*小值捕获:
    所谓*小值捕获是指在测量过程中捕捉测量值中的*小值。设置*小捕获的步骤如下
    ①进入系统设置菜单,将*小值捕获设置为ON。
    ②设置完毕,按MENU返回主界面(OFF是关闭*小值捕获;ON是开启*小值捕获)。
    说明:启用*小值捕获后,探头与工件耦合时,屏幕显示的是当前测量值;当探头抬起时,
    屏幕显示的是测量中的*小值,并且*小值标志MIN闪烁6次。如果在MIN闪烁期间继续测量,当前测量值将继续参加*小值捕捉,如果MIN停止闪烁后再进行测量,将重新捕捉*小值。
    7.5两点校准:
    选择两个与被测材料、声速及曲率相同的标准试块,其中一个试块的厚度接近测量范围的上限,另一个试块的厚度接近测量范围的下限,进行两点校准可以提高测量精度,进行两点校准之前应先将两点校准功能打开,关闭*小值捕获。具体步骤如下:
    ①进入系统设置菜单,将两点校准设置为ON。
    ②设置完毕后,按MENU键返回主界面。如果两点校准被设为ON,那么在测量的状态下可随时进行两点校准。
    ③进行校准操作。具体步骤如下:
    首先,测量薄块的厚度,在厚度显示状态下按CAL键,屏幕提示校准薄块
    通过△或▽键将测量值调整到标准值,按CAL键,屏幕提示校准厚块
    测量厚的标准试块,同样通过△或▽键将测量值调整到标准值,再按CAL键,完成校准操作,即可进行测量。
    7.6亮度调节:
    具体的操作步骤如下:
    ①进入功能设置菜单,通过△或▽键将光标移至“调节亮度”处
    ②按回车键进入调节亮度界面
    此时,可以通过△或▽键调节亮度,调节完毕后,按回车键返回上个界面,再按MENU键返回主界面。
    7.7上下限设定:
    本仪器可分别设定上限值及下限值,以便快速测量。
    具体设置步骤如下:
    ①在功能界面下按上下键使光标移至“出界报警”处
    ②按回车键进入界限界面,屏幕显示原设置的下限或上限
    此时,按回车键上限和下限可循环显示;通过△或▽键设置新的下限或上限
    ③设置完毕后,按VEL键或按MENU键或进行测量都可退出限界设置界面。
    当测量范围超出所设定的上下限时,仪器自动报警,蜂鸣器鸣响。
    7.8背光功能:
    仪器提供背光功能,以便在光线暗处阅读测量值。但请注意节电。
    按键背光亮,再按一下,背光灭。或者,关机后,背光功能自动关闭。
    7.9低电压提示功能:
    如果屏幕上显示BATT标志,说明电池电压低,应及时地更换新电池再继续使用。
    7.10关机方式:
    UM-2D设有自动关机和手动关机两种方式,若五分钟内不进行任何操作,那么仪器将自动关机;按MENU键将光标移至关机处,再按回车键即可手动关机。
    八、UM-2D超声波测厚仪的测量应用技术:
    8.1工件表面要求:
    8.1.1清洁表面:
    测量前应清除被测物体表面所有的灰尘、污垢及锈蚀物等覆盖物。
    8.1.2提高粗糙度要求:
    过份粗糙的表面会引起测量误差,甚至仪器无读数。测量前应尽量使被测材料表面光滑,可使用磨、抛、锉等方法使其光滑。还可使用高粘度耦合剂。
    8.1.3粗机加工表面:
    粗机加工表面(如车床或刨床)所造成的有规则的细槽也会引起测量误差,弥补方法同8.2.2,另外调整探头隔声层(穿过探头底面中心的金属薄层)与被测材料细槽之间的夹角,使隔层板与细槽-相互垂直或平行,取读数中的*小值作为测量厚度,可取得较好效果。
    8.2测量方法:
    8.2.1单点测量法:
    在被测体上任一点,利用探头进行测量,显示值即为厚度值。
    8.2.2两点测量法:
    在被测体的同一点用探头进行二次测量,在二次测量中,探头的分割面成90度,较小值为厚度值。
    8.2.3多点测量法:
    在直径约为30mm的圆内进行多次测量,取其*小值为厚度值
    8.2.4连续测量法:
    用单点测量法,沿指定线路连续测量,其间隔不小于5mm,取其中*小值为厚度值。
    8.3管壁测量:
    测量时,探头分割面可分别沿管材的轴线或垂直管材的轴线测量,此时屏幕上的读数将有规则地变化,选择读数中的*小值,作为材料的准确厚度。
    若管径大时,测量应在垂直轴线的方向测量,管径小时,则选择沿着轴线方向和垂直轴线方向两种测量方法,取读数中的*小值作为测量的厚度值。
    8.4铸件测量:
    铸件测量有其特殊性。铸件材料的晶粒比较粗大,组织不够致密,在加上往往处于毛面状态就进行测量,因此使测量遇到较大的困难。故对铸件测量时应注意以下几点:
    ①使用低频探头,如本公司的ZT-12型探头。
    ②在测量表面不加工的铸件时,必须采用粘度较大的机油、黄油和水玻璃作耦合剂。
    ③*好用与待测物相同的材料,测量方向与待测物也相同的标准试块校准材料的声速。
    ④必要时可进行两点校准。
    九、UM-2D超声波测厚仪的维护及注意事项:
    9.1电源检查:
    电源电压低时,仪器显示低电压提示符号,此时应及时按要求更换电池,以免影响测量精度。背光不能长时间打开,以免过快消耗电池电量。
    按下述方式更换电池即可:
    ①关机
    ②打开电池仓盖
    ③取出电池,放入新电池,注意极性
    仪器长时间不使用时应将电池取出,以免电池漏液,腐蚀电池盒与极片。
    9.2注意事项:
    9.2.1一般注意事项:
    ①避免仪器及探头受到强烈震动
    ②避免将仪器置于过于潮湿的环境中
    ③拔插探头时,应捏住活动外套沿轴线用力,不可旋转探头,以免损坏探头电缆芯线。
    ④由于使用随机试块对仪器进行检测时,需涂耦合剂,所以请注意防锈。使用后将随机试块擦干净。
    气温较高时不要沾上汗液。长期不使用应在随机试块表面涂上少许油脂防锈,当再次使用时,将油脂擦净后即可进行正常工作。
    ⑤酒精、稀释液等对机壳尤其是视窗有腐蚀作用,故清洗时,用少量清水轻拭即可。
    9.2.2测量时的注意事项:
    ①测量时,只有耦合标志出现并稳定时,才是良好测量
    ②若探头磨损,测量会出现示值不稳,应更换探头。
    9.2.3探头隔声层磨损后若出现下列情况,应更换探头:
    ①测量不同的厚度时,其测量值总显示某一值。
    ②插上探头不进行测量就有耦合标志或有测量值出现。
    9.3维修
    如出现以下问题请与我厂维修部联系:
    ①仪器器件损坏,不能测量。
    ②显示屏显示不正常。
    ③正常使用时,误差过大。
    ④键盘操作失灵或混乱。
    由于UM-2D超声波测厚仪为高科技产品,所以维修工作应由受过*培训的维修人员完成,请用户不要自行拆卸修理。
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    王成军
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