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超声波测厚仪宇时UM-3使用说明

2013-08-06 11:00:21 来源：宁波科诚仪器王成军

超声波测厚仪宇时UM-3使用说明
1超声波测厚仪宇时UM-3的产品概述：
UM-3 精密超声波测厚仪采用单晶延迟探头，利用多次回波提高精度，使分辨率可达0.001mm，测量下限达0.3mm 。UM-3具有普通和精密两种工作模式。普通模式采用界面波-回波法，测量范围是 1.5mm～18mm ；精密模式采用回波-回波法，测量范围是 0.3mm～10mm。
工作原理如下：
厚度=（声速 × 时间）/ n
注：n 为回波次数，回波次数越多测量精度越高
1.1模式切换
按MENU键，当反黑显示普通或精密时，按键可进行普通和精密两种模式的切换。
1.2基本配置及各部分名称
1.2.3仪器各部分名称
液晶屏显示：
m/s-声速单位，凸-耦合标志，mm-厚度单位，HIGH-0.001mm分辨率，MID-0.01mm分辨率，LOW-0.1mm分辨率，BATT-低电压标志，测量时左下角数字是回波次数
键盘功能说明
ON-开机键，VEL-声速键，MENU-菜单键，MEM-存储键，CAL-校准键，背光键，回车键，△、▽-上、下调节键
1.2.1 标准配置：
主机-1台，单晶延迟探头-1个，探头线-1条，耦合剂-1 瓶，仪器密封箱-1个，使用说明书-1本，电池-2节
1.2.2选购件：
通信软件及电缆，阶梯试块
2超声波测厚仪宇时UM-3的技术参数：
显示方式：128×64大屏幕点阵液晶屏显示
普通模式测量范围：1.5 mm～18 mm
精密模式测量范围：0.15 mm～10 mm
示值误差: ±0.005mm (3mm以下)，±0.05mm (20mm以下)
显示分辨率：毫米：0.001，0.01，0.1，英寸：0.000，0.00，0.01
测量刷新频率：常规测量时4Hz，*小值扫查时25Hz
声速调节范围：1000～9999 m/s
使用环境：0℃～40℃
电源：二节5号碱性电池
外形尺寸：149×73×32 mm
重量：200g（含电池）
3超声波测厚仪宇时UM-3的主要功能：
具有普通和精密两种工作模式
厚度值存储：可存储500个厚度值,关机后数据不丢失,并且划分为五个文件，便于对数据的管理
厚度报警：可设置厚度界限，对限界外的测量值自动报警
*小值捕获（也称扫查模式）：捕获测量过程中的*小值
两点校准：测量曲面壁厚或特殊应用时，可提高测量的精度
支持毫米和英寸两种厚度单位
可存储5种不同材料的声速
校准值自动存储，关机后数据不丢失
删除功能：对文件中的可疑数据进行删除，也可删除所有已存储数据以便存储新的数值
具有背光显示，为夜间工作带来方便
低电压提示
自动关机：如果5分钟内没进行任何操作，仪器自动关机
耦合状态提示：通过观察耦合标志的稳定性可知耦合是否正常
支持中文、英文两种语言界面
4超声波测厚仪宇时UM-3的测量步骤：
4.1仪器准备
将探头插头插入主机探头插座中，按一下ON键，听到两次蜂鸣声屏幕出现显示，其中显示的声速为上次关机前使用的声速
4.2声速的设定
当已知材料声速，可以利用仪器提供的声速手动调节功能，并依据附表中的参考声速值，调整仪器的内置声速值。声速存储器可存储五个声速值。具体操作步骤如下：
如果当前显示屏显示的是非声速值，那么按VEL键进入声速状态，屏幕将显示当前声速存储单元的内容。之后，每按一次VEL键，声速数值就变化一次，可循环显示五个声速值，如果当前声速存储器内没有所需声速值，可用△或▽键调整到所需值即可，同时将此值存入声速存储器内以便下次使用
按VEL进入声速状态
再按VEL改变声速值
在调整声速数值时，屏幕上的▲可在数值的个位、十位或百位的下方，当▲在个位、十位、百位的下方时，每按一次△或▽键，数值将依次加或减1、10、100，可以通过回车键实现▲在个位、十位或百位下方的切换。
4.3声速的测量
在被测材料的声速未知时，在测量厚度前必须进行声速校准。
注：准备与被测物体成分相同的测试块，其表面必须适于测量，用游标卡尺测量测试块厚度。
具体步骤如下：
①在现有的仪器状态下，测量已准备好的同质并已知厚度的试块。屏幕显示测量的厚度值。
②按VEL声速键，利用△或▽键调整声速值，直到测量值与已知厚度相等，这时的声速值就是该材料的声速。
③该声速自动被存入当前的声速存储单元。
注意：利用仪器自带的4mm钢试块校准时，声速要调整到5900m/s。在测量非钢材料前，把声速调整到该材料的声速值。
4.4仪器校准
4.4.1快捷校准
选择与被测材料声速及曲率相同的标准试块,如果UM-3的厚度测量值与该试块的厚度不符，利用△或▽键调整仪器显示的厚度值，使其与试块的实际厚度相等，然后按下CAL键结束校准。
注：UM-3测厚仪不须校准直接测厚，注意声速的调节。
4.4.2两点校准
测量曲面壁厚或特殊应用时，为了提高测量的精度,可进行两点校准,详见第7章第5节。
4.4.3快捷校准与两点校准的区别
快捷校准与两点校准的区别有以下几点:
①快捷校准用随机试块,声速为5900m/s。两点校准可用任意材料和厚度的试块。
②快捷校准只需一块试块。两点校准需要两块厚度不同的试块。
用△或▽键调整后的值
4.5测量厚度
仪器校准后，设置好声速值，然后将耦合剂涂于被测处，将探头与被测材料耦合即可测量，屏幕将显示被测材料的厚度值。
说明：当探头与被测材料耦合时，屏幕上将显示“凸”耦合标志；“凸”标志右侧的数字是回波次数，回波次数值越大测量精度越高。当耦合标志闪烁或不出现则说明没耦合好。拿开探头后，厚度值保持不变，耦合标志消失。
5超声波测厚仪宇时UM-3的厚度值的存储与查阅：
5.1存储厚度值
厚度值的存储分5个文件，每个文件可存储100个测量值。
首先，选择存储文件号。按MENU键，使屏幕反显查阅
按回车键，5个文件号的可循环显示，当选择所需的文件号后，再按MENU键使屏幕显示存储字样，即存储文件号选择完毕。
其次,测量厚度值。
*后，存储厚度值。测量厚度值后，屏幕将显示该厚度值。此时，按下MEM键即可存储该厚度值。存储完成后屏幕左下方显示一次“Memory”，即证明已存储该厚度值。
5.2厚度值的查阅
按MENU键，使屏幕反显查阅，然后，按回车键，5个文件号可循环显示，选择需查阅的文件号
*后，按MEM键进入该文件
说明: No. : 表示当前显示的存储数据的序号；Total : 表示当前文件中存储数据的总数量。
此时,可通过△或▽键进行翻阅查看，查阅完毕后，按MENU键或进行测量即可返回主界面。
6超声波测厚仪宇时UM-3的删除操作：
6.1删除单个厚度值
在查阅存储数据状态，按下回车键即可删除当前显示的存储值。
具体步骤如下：
①进入查阅存储数据状态，方法前面已介绍。
②按回车键删除当前值，显示下一个存储值。
6.2删除当前文件
要删除当前文件的所有内容，具体操作如下：
①按MENU键将光标移至“功能”处
再按回车键进入功能菜单并通过▽键选定功能设置。
②按回车键进入该界面，再通过△或▽键选定“删除当前文件”。
③选定后，按回车键屏幕出现如下显示：
此时，按回车键将删除当前文件，按MENU键返回上个界面。
④删除完成后，按VEL键或按MENU键均可返回主界面。
6.3删除所有文件
要删除所有文件中的数据，步骤同上。只需选定删除所有文件即可。
6.4删除校准数据
要删除校准数据，步骤同上。只需选定删除校准数据即可。
7超声波测厚仪宇时UM-3的系统和功能设置：
7.1系统设置
按MENU键将光标移至“功能”处
然后按回车键进入功能菜单
此时，光标在（系统设置）项上，（如果不是在此项上可用△或▽键上下移动将光标移在系统设置项上），按回车键进入系统设置菜单，用△或▽键上下移动选择需修改项,然后按回车键可进行修改。
系统设置中共有5个选项，依次为：单位(公制、英制)；分辨率(高、中、低)；*小值捕获；两点校准；语言；5个选项，用户可以根据实际需要进行设置。设置完成后，按MENU键或进行测量可返回主页面。
7.2功能设置
按MENU键将光标移至“功能”处, 然后，按回车键进入功能菜单，再通过△或▽键选择功能设置。
再按回车键进入功能设置菜单，通过△或▽键上下移动光标选择相应的功能项。
功能设置中共有4个选项，依次为：删除当前文件；删除所有文件；删除校准数据；调节亮度；4个选项，用户可以根据实际需要进行设置。设置完后，按MENU键或进行测量可返回主页面。
7.3测量单位及分辨率的设定
UM-3提供两种测量单位：公制和英制；两种显示分辨率：0.1mm和0.01mm。用户可以根据实际的需要进行设定。
具体的设定步骤如下：
①进入系统设置菜单，通过△或▽键将光标移至“单位”处，按回车键可循环调节METRIC（公制）、IMPERIAL（英制）选项
②进入系统设置菜单，通过△或▽键将光标移至“分辨率”处，按回车键可循环调节HIGH(0.01mm)、LOW(0.1mm)选项
7.4*小值捕获
所谓*小值捕获是指在测量过程中捕捉测量值中的*小值。设置*小值捕获的步骤如下：
① 进入系统设置菜单，将*小值捕获设置为ON。
②设置完毕，按MENU返回主界面（OFF是关闭*小值捕获；ON是开启*小值捕获）。
说明：启用*小值捕获后，探头与工件耦合时，屏幕显示的是当前测量值；当探头抬起时，屏幕显示的是测量中的*小值，并且*小值标志MIN闪烁6次。如果在MIN闪烁期间继续测量，当前测量值将继续参加*小值捕捉，如果MIN停止闪烁后再进行测量，将重新捕捉*小值。
7.5两点校准
选择两个与被测材料、声速及曲率相同的标准试块,其中一个试块的厚度接近测量范围的上限，另一个试块的厚度接近测量范围的下限，进行两点校准可以提高测量精度，进行两点校准之前应先将两点校准功能打开，关闭*小值捕获。具体步骤如下:
①进入系统设置菜单，将两点校准设置为ON。
②设置完毕后，按MENU键返回主界面。如果两点校准被设为ON，那么在测量的状态下可随时进行两点校准。
③进行校准操作。具体步骤如下：
首先，测量薄块的厚度，在厚度显示状态下按CAL键，屏幕提示校准薄块
通过△或▽键将测量值调整到标准值，按CAL键，屏幕提示校准厚块测量厚的标准试块，同样通过△或▽键将测量值调整到标准值，再按CAL键，完成校准操作，即可进行测量。
7.6亮度调节
具体的操作步骤如下:
①进入功能设置菜单,通过△或▽键将光标移至“调节亮度”处
②按回车键进入调节亮度界面
此时,可以通过△或▽键调节亮度，调节完毕后，按回车键返回上个界面，再按MENU键返回主界面。
7.7上下限设定
本仪器可分别设定上限值及下限值,以便快速测量。
具体设置步骤如下:
①在功能界面下按上下键使光标移至“出界报警”处
②按回车键进入界限界面，屏幕显示原设置的下限或上限
此时，按回车键上限和下限可循环显示；通过△或▽键设置新的下限或上限值。
③设置完毕后，按VEL键或按MENU键或进行测量都可退出限界设置界面。
当测量范围超出所设定的上下限时，仪器自动报警，蜂鸣器鸣响。
7.8背光功能
仪器提供背光功能，以便在光线暗处阅读测量值。但请注意节电。
按键背光亮，再按一下，背光灭。或者，关机后，背光功能自动关闭。
7.9低电压提示功能
如果屏幕上显示BATT标志，说明电池电压低，应及时地更换新电池再继续使用。
7.10关机方式
UM-3设有自动关机和手动关机两种方式，约五分钟内不进行任何操作，那么仪器将自动关机；按MENU键将光标移至关机处，再按回车键即可手动关机。
8超声波测厚仪宇时UM-3的维护及注意事项：
8.1电源检查
电源电压低时，仪器显示低电压提示符号，此时应及时按要求更换电池，以免影响测量精度。背光不能长时间打开，以免过快消耗电池电量。
按下述方式更换电池即可：
①关机
②打开电池仓盖
③取出电池，放入新电池，注意极性
仪器长时间不使用时应将电池取出，以免电池漏液，腐蚀电池盒与极片。
8.2注意事项
8.2.1一般注意事项
①避免仪器及探头受到强烈震动
②避免将仪器置于过于潮湿的环境中
③拔插探头时，应捏住活动外套沿轴线用力，不可旋转探头，以免损坏探头电缆芯线。
④由于使用随机试块对仪器进行检测时，需涂耦合剂，所以请注意防锈。使用后将随机试块擦干净。气温较高时不要沾上汗液。长期不使用应在随机试块表面涂上少许油脂防锈，当再次使用时，将油脂擦净后即可进行正常工作。
⑤酒精、稀释液等对机壳尤其是视窗有腐蚀作用，故清洗时，用少量清水轻拭即可。
8.2.2测量时的注意事项
①测量时，只有耦合标志出现并稳定时，才是良好测量。
②若探头磨损，测量会出现示值不稳，应更换探头。
8.3维修
如出现以下问题请与我厂维修部联系：
①仪器器件损坏，不能测量。
②显示屏显示不正常。
③正常使用时，误差过大。
④键盘操作失灵或混乱。
由于UM-3系列超声波测厚仪为高科技产品，所以维修工作应由受过*培训的维修人员完成，请用户不要自行拆卸修理。
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